試件表面的溫度響應(yīng)與試件厚度L有關(guān)。當脈沖線熱源激勵在薄板上時，由于盲孔缺陷處的L值減小，盲孔缺陷處表面溫度的幅值會增大，且根據(jù)matlab模擬得出結(jié)論，溫度的衰減也會慢于正常區(qū)域。進行Abaqus模擬后，得出結(jié)論：當線熱源掃描至缺陷位置時，在缺陷處溫度突然升高，高于無缺陷處的位置；當線熱源掃描過缺陷后，在缺陷處的熱圖像上發(fā)生明顯高溫處的溫度拖拽現(xiàn)象。針對在粗掃檢測階段發(fā)現(xiàn)的排除噪音后溫度疑似缺陷的微區(qū)域，在細掃描階段的檢測原理中，在該微區(qū)域內(nèi)進行提高功率的快速細掃描，將快速掃描的線激光近似看作為面激光脈沖加熱。 | 
